北京2016年8月9日電 /美通社/ -- 德州儀器(TI) 的Stuti Ghiya發表了博客文章《七夕巧克力挑戰！看看光譜分析如何分析并帶來答案》，以下為博客全文：
玫瑰、巧克力、燭光……
一個最浪漫的七夕，
我們用TI DLP® NIRscan? Nano EVM
為你挑選較佳巧克力。
看高科技如何證明你的愛！
沒有什么比七夕給愛人送巧克力更甜蜜了，但如何為對方挑選有著適當比例的可可和糖分的巧克力可是個“技術活。”
在TI DLP產品事業部，決定利用DLP NIRscan Nano 評估模塊（EVM）來挑戰這個“甜蜜難題”。我們將未鑒定的巧克力樣本掃描，將其與資料庫中已知的牛奶巧克力以及含有70%可可和85%可可的黑巧克力進行對比。
DLP NIRscan Nano EVM對900-1,700納米的波長范圍進行了優化，并且能夠帶來6,000:1的信噪比(SNR)。以下圖標內顯示的結果直接取自EVM內的圖形用戶界面 (GUI)。我們觀察了這個波長范圍內的三種不同的巧克力的吸收程度。當與資料庫中的吸收范圍進行對比時，我們即可分辨出70%可可的黑巧克力、85%可可黑巧克力和牛奶巧克力。
遠不止一盒巧克力
當然，NIRscan Nano EVM可以幫助測定的可不止糖分。
EVM 是一款評估工具以幫助開發者迅速利用DLP芯片設計光譜儀和化學分析儀。該工具采用DLP技術，并連同單點InGaAs檢測器，以便在便攜式應用中提供高性能測量，這種便攜式系統的價格更加親民。而寬近紅外光窗口投射則讓其在一系列諸如農業、石油化工和醫療保健領域的應用變得更有價值。
EVM可通過USB或電池充電，并配備TI組件，包括DLP2010NIR數字微鏡器件（DMD）、DLPC150數字控制器和DLPA2005電源控制以及LED/燈驅動器。DLP2010NIR芯片是當前尺寸最小、效率較高的DLP芯片，專為一系列手持近紅外傳感應用設計。
現在，你已經不用擔心買錯巧克力，并能夠為愛人挑選出甜度最合適的巧克力了，立刻讓高科技證明你的愛！
